ООО "ПриборКомБел"
Поиск
Беларусь, 220070, г. Минск
ул. Ваупшасова д.10, к.152
Тел. + 375 17 238-44-44
| ||||
Каталог
ООО «Рент технолоджис» Учебное оборудование K&H (ТАЙВАНЬ) Электронные тренажеры / макетные платы Измерительные приборы Зеленая энергия Автомобильные системы Автоматическое управление Холодильная техника / Кондиционирование воздуха Электрические машины и Силовая электроника Промышленное управление Биомедицина Электронные схемы Микроэлектроника Телекоммуникации и связь Передача данных и Сети АКИП GOOD WILL INSTRUMENT CO., LTD. (ТАЙВАНЬ) APPA TECHNOLOGY CORPORATION (ТАЙВАНЬ) Мультиметры, клещи электроизмерительные ООО "Альтами" Микроскоп QUANTUM COMPOSERS (США) Лазеры и генераторы тока LECROY CORPORATION (США) Цифровой стробоскопический осциллограф LeCroy серии WaveExpert Цифровые осциллографы LeCroy серии LabMaster 10 Zi Цифровые осциллографы LeCroy серии WaveMaster 8 Zi-a Цифровые осциллографы LeCroy серии WavePro 7 Zi-a Цифровые осциллографы LeCroy серии WaveRunner HRO 6 Zi Цифровые осциллографы LeCroy серии WaveRunner 6 Zi Цифровые осциллографы teledyne LeCroy серии HDO6000 Цифровые осциллографы teledyne LeCroy серии HDO4000 Анализаторы цепей LeCroy Генераторы LeCroy Цифровые осциллографы Анализаторы логических устройств Опции и аксессуары к осциллографам LeCroy FLUKE AOYUE INTERNATIONAL LIMITED (Паяльное оборудование) ИТЦ КОНТУР ЗАО "Эрстед" (Трассоискатели и трассодефектоискатели) LUKEY (Паяльные станции, паяльники, паяльные фены) ОАО "ЭЛЕКТРОИЗМЕРИТЕЛЬ" (УКРАИНА) ООО "ЗИП-НАУЧПРИБОР" (РОССИЯ) CHEMET, CHEMET GMBH (ГЕРМАНИЯ) FELDER, FELDER GMBH (ГЕРМАНИЯ) ANMO, ANMO ELECTRONICS (ТАЙВАНЬ) CARTON, CARTON OPTICAL (SIAM) CO., LTD. (ЯПОНИЯ) ERSA, ERSA GMBH (ГЕРМАНИЯ) ((Паяльное оборудование)) BERNSTEIN, BERNSTEIN-WERKZEUGFABRIK STEINRUECKE GMBH (ГЕРМАНИЯ) ELME, ELME S.R.l. (ИТАЛИЯ) ПАЯЛЬНО-РЕМОНТНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ POMONA, POMONA ELECTRONICS (США) АКСЕССУАРЫ ВЧ, СВЧ-ДИАПАЗОНА ДЛЯ РАДИОИЗМЕРЕНИЙ PENN ENGINEERING, PENN ENGINEERING COMPONENTS, INC. (США) HUBER+SUHNER, HUBER+SUHNER GROUP (ШВЕЙЦАРИЯ) PHASE MATRIX, PHASE MATRIX (США) NATIONAL INSTRUMENTS, NATIONAL INSTRUMENTS (США) PENDULUM, PENDULUM INSTRUMENTS AB. (ШВЕЦИЯ) МЕГОММЕТР, ПАО УМАНСКИЙ ЗАВОД "МЕГОММЕТР" (УКРАИНА) РАДИО-СЕРВИС, ЗАО НПФ «РАДИО-СЕРВИС» (РОССИЯ) АКСЕССУАРЫ К ОСЦИЛЛОГРАФАМ INT—PMK TESTEC, TESTEC ELEKTRONIK GMBH (ГЕРМАНИЯ) HOLDEN, HOLDEN ELECTRONICS CO., LTD. (ТАЙВАНЬ) SIGLENT, SIGLENT TECHNOLOGIES (КНР) PICOTEST, PICOTEST CORPORATION (ТАЙВАНЬ) ATTEN, ATTEN ELECTRONICS CO. LTD. (КНР) MCP, SANGHAI MCP CORP. (КНР) METRIX, METRIX (CHAUVIN ARNOUX GROUP) (ФРАНЦИЯ) МИКРОН, А.О. МИКРОН (МОЛДОВА) MULTI BEHA, CH. BEHA GMBH (ГЕРМАНИЯ) TDK-LAMBDA, TDK-LAMBDA CORPORATION (ЯПОНИЯ) YI CHUN, YI CHUN ELECTRICS CO., LTD. (ТАЙВАНЬ) CHY ABM MEGGER SEW METREL HT ITALIA, HT ITALIA S.R.l. (ИТАЛИЯ) ЭЛВИРА МИКРАН CHY FIREMATE CO., LTD. (ТАЙВАНЬ) WAYNE KERR CENTER SPECTRACOM MOTECH PICOSECOND PULSE LABS TABOR CREDIX IWATSU BOONTON ELECTRONICS KEISOKU STANFORD RESEARCH SYSTEMS ANRITSU PROTEK УЧЕБНЫЕ И ЛАБОРАТОРНЫЕ КОМПЛЕКСЫ SONEL ROHDE&SCHWARZ РАДИОИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ СТРАН СНГ(Вольтметр итд) TEKTRONIX INC. (США) KEYSIGHT TECHNOLOGIES (США)
Каталог / EMC-100 Учебная система EMI
    Система EMC-100 состоит из двух частей : одна - это измерительный прибор, оснащенный функцией измерения электромагнитных помех (EMI), в том числе кондуктивных и индуктивных электромагнитных помех. Он обеспечивает контроль электромагнитных помех продуктов перед проверкой. Вторая часть - это учебные модули, которые обеспечивают для учащихся простоту выполнения экспериментов и изучение базовых принципов электромагнитных помех и их подавления как метода борьбы с ними. Новички могут изучить теорию электромагнитных помех, а также методы измерения и подавления, которые применяют специалисты по электромагнитной совместимости.

    Функциональные возможности аппаратуры и ПО

Аппаратная часть :
С помощью встроенного измерительного прибора с сетью стабилизации полного сопротивления линии, анализатора спектра и предварительного усилителя выполняется контроль электромагнитных помех продуктов перед предварительной проверкой. Аппаратура компактная и переносная.

Программное обеспечение :
1. Профессиональное лабораторное стандартное измерительное ПО с мощной 
    программой анализа.
2. Измерительная программа обеспечивает отображение одноразового сканирования
 
    оси частот в режиме LOG/LIN и диапазоне от 9 кГц до 30 МГц.
3. Режимы измерения пиковых (PK), квазипиковых (QP), усредненных (Ave) значений
 
    в соответствии со стандартом CISPR 16-1.
4. Режим анализатора спектра. При пиковых (PK) измерениях выполняется быстрое
 
    сканирование. Это позволяет пользователям выполнять предварительную
 
    проверку и анализ электромагнитных помех продуктов.
5. Пользователи могут определить контрольное значение, а объем памяти для записи
 
    данных в режиме работы на базе ПК можно расширять без ограничений.

Функциональные возможности компонентов подавления

1. Экспериментальные модули предназначены для изучения электромагнитных помех 
    и их подавления как метода борьбы с ними. Имеется более 50 компонентов
 
    подавления, а в руководстве описаны сотни экспериментальных режимов подавления.
2. Компоненты подавления разработаны опытными специалистами по
 
    интегрированной электромагнитной совместимости. Пользователи могут с
 
    легкостью использовать различные компоненты подавления для устранения
 
    электромагнитных помех.
3. Сменные компоненты подавления с защитой от ошибок являются расширяемыми,
 
    легко обслуживаются и модифицируются.
4. Поставляются в прозрачном корпусе для удобства наблюдения компонентов подавления.

    Система EMC-100 содержит измерительный прибор (EMC-11001) для обеспечения кондуктивных электромагнитных помех и различные экспериментальные модули, поддерживающие различные экспериментальные виды излучения.
    Список экспериментов:

1. Источник сигнала кондуктивных электромагнитных помех

2. Эксперимент с фильтрацией источника питания и кондуктивными 
    электромагнитными помехами

3. Эксперимент с заземлением кондуктивных электромагнитных помех

    A. Компоненты фильтра, не подключенные в эксперименте с заземлением питания

    B. Эксперимент с заземлением вторичной цепи и питания

4. Эксперимент с оптимизацией кондуктивных электромагнитных помех

5. Источник сигнала индуктивных электромагнитных помех

6. Эксперимент с компонентами подавления индуктивных электромагнитных помех

7. Эксперимент с заземлением индуктивных электромагнитных помех

    A. Эксперимент с нанесением меди без заземления

    B. Эксперименты с заземлением и компонентами подавления с фильтром

8. Эксперимент с экранированием электромагнитных помех

    A. Эксперимент с экранированием

    B. Эксперимент с экранированием и заземлением

9. Эксперимент по оптимизации излучаемых электромагнитных помех

Главная | Каталог | О компании | Классификация | Контакты | Новости
Разработка сайта: ЧУП “Симпл Солюшнс”